【台南訊】堪稱國內產學泰斗的國立成功大學特聘教授鄭芳田，以研發的「全自動化型虛擬量測(AVM)系統」為奇美帶來的產品良率及產能提升的經濟效益，獲奇美電子股份有限公司強力推薦，並獲選為「97年經濟部大學產業經濟貢獻獎－產業貢獻獎（個人獎）」，3日將在台北經濟部產業科技研發成果聯合頒獎典禮接受表揚。以鄭芳田教授在產學上創造的傲人成績，獲此殊榮，誠為實至名歸。

97年經濟部大學產業經濟貢獻獎，共分為產業貢獻獎（個人獎）、產業貢獻獎（團體獎）、產業深耕獎（個人獎）、產業深耕獎（團體獎）。在產業貢獻獎（個人獎）有三位得獎者。其中，成功大學特聘教授鄭芳田排序在前。

鄭芳田教授所研發成功適合全廠導入之全自動化型虛擬量測(AVM)系統，可在產品尚未或無法進行實際量測之情況下，利用生產機台參數推估其所生產之產品品質，以進行線上且即時之產品品質預測及機台效能監控；可即時發現異常，避免發生重大損失。

此外，AVM技術，亦可用來取代部分實際量測、實現逐片檢測模式之先進製程控制、及減少監控片的消耗量。奇美電子使用後深切認同全廠導入AVM後所帶來的產品良率及產能提升的經濟效益，且玻璃愈大其經濟效益愈高。

鄭芳田教授，近年來的學術與產業應用研究以「電子業生產自動化與E化製造(e-Manufacturing)」為主軸。其E化製造目標乃是利用資訊科技(Information Technology, IT)及開放的網際網路(Internet)來有效整合:工廠區之製造執行系統(Manufacturing Execution System, MES)與設備工程系統(Equipment Engineering System, EES)，及企業間之供應鏈(Supply Chain, SC)與工程鏈(Engineering Chain, EC)等。以達到工廠內部(包括生產與量測機台、自動搬運系統、和廠區監控等)及整體產業(包含工廠區、公司管理層、上下游工廠間、客戶端、設備與技術供應商、及其他企業夥伴)間資訊的整合與通透性，使其可有效地提高產能與產品良率(運用MES)；提高整體設備效率(Overall Equipment Efficiency, OEE) (運用EES)；縮短產品自下定單至交貨(Order-to-Delivery)之時間(運用SC)；及縮短產品自設計與發展至上市間之時間(Time-to-Market) (運用EC)，進而達成降低整體生產成本的願景。

鄭芳田教授，以E化製造四大領域：MES、SC、EES、和EC為研究基礎方向，精進發展相關技術。近年來，主要研究成果集中於屬EES之虛擬量測(Virtual Metrology, VM)與智慧型預測保養系統(Intelligent Prognostics System, IPS)等。且對於E化製造之四大領域(MES、SC、EES、和EC)，均有相關的學術研究與產業應用之成果。

在技術移轉之產業效益上，鄭芳田教授擁有傲人成績，截至97年8月止共計有11件技轉案，技轉對象有台積電、奇美電子、矽品、精密機械研究發展中心… 等)。其中，已成功研發且技轉給奇美的「全廠導入AVM系統之相關技術」乃屬非專屬授權。此項技術已完成中華民國、美國、日本、韓國、及大陸等地區的專利申請，亦即本技術可再推廣及技轉給國內外之半導體廠及面板廠。本「全廠導入AVM系統之相關技術」具有新台幣壹億元以上之產值。

鄭教授在產學合作方面所獲得之獎項，除了97年經濟部大學產業經濟貢獻獎外，亦曾榮獲92年教育部大學校院教師產學合作獎、95年國科會傑出產學合作獎、及93年與97年之成大產學合作成果特優教師獎。另外，鄭教授亦曾榮獲95年國科會傑出研究獎。

鄭芳田，1976年國立成功大學電機工程系學士、1982年美國俄亥俄州立大學電機工程研究所碩士畢業、1989年取得美國俄亥俄州立大學電機工程研究所博士學位，專研半導體生產自動化、虛擬量測、E化製造、智慧型製造系統等，均有卓越成就。

他在2008年1月獲得國際電機電子工程師學會會士(IEEE Fellow)頭銜，歷任成功大學E化製造研究中心主任（2008/01起）、行政院國科會工程處自動化學門召集人（2006/12起）、國立成功大學製造工程研究所特聘教授（2003/08起）、國立成功大學製造工程研究所教授兼所長（1998-2001）、中科院電子所簡聘技監研究員(1994-1995)、中科院電子所計畫室主任(1990-1995)。971001j