【台南訊】由經濟部指導、國立成功大學微奈米科技研究中心及工研院共同主辦的「亞太經合會－奈米薄膜量測技術研討會」及「亞太經合會－奈米檢測技術論壇」，即將於9月29日至10月3日連續五天假成大圖書館B1會議廳舉行。歡迎對奈米科技相關領域有興趣之各界人士，踴躍出席，共襄盛舉！報名網址http://apec2008.ncku.edu.tw/Registration.htm或電洽06-2757575轉31380陳芳怡小姐。

　主辦單位成大微奈米科技研究中心主任林仁輝表示，奈米科技是目前世界各國優先並長期支持的重要研發之一，有鑑於此，自2005年起由工研院在亞太經合會（APEC）的贊助下，連續三年舉辦奈米技術研討活動，今年首次將會議移師南部舉行，由成大與工研院聯手擴大舉辦，並邀請國外資深研究人員與官員等齊聚成大，進行研討與論壇，期盼透過此活動的交流，建構一產官學分享最新最先進的奈米分析及量測技術的溝通平台，推動更符合未來市場需求的奈米標準。

　「奈米薄膜量測技術研討會」（Workshop for Thin Film Metrology）於9月29日至30日登場，主題著重於薄膜特性之研究，內容涵蓋薄膜結構和機械特性、薄膜於表層或層間的特性研究及薄膜製程技術、拉伸測試及原子沈積等技術探討，以及薄膜製程備製（如：超高真空離子束濺鍍及電子束蒸鍍法）、薄膜光學分析（如：紅外光譜、顯微拉曼光譜、及螢光光譜法）、薄膜微結構檢測（如：場發射掃描式電子及穿透式顯微鏡法）、及薄膜機械性質檢測（如：奈米壓痕及雙束型聚焦離子束法）等之實機操作。

　另外，10月1日至3日展開的「奈米檢測技術論壇」（Nanoscale Measurement Technology Forum），主要探討奈米分析及量測的技術，包含奈米計量標準、奈米技術於半導體產業之應用、奈米結構材料之計量標準技術等。邀請來自世界各國的學者專家發表專題演說，包括美國國家標準與技術研究院（National Institute of Standards and Technology, NIST）院士、日本產業技術總合研究院（National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, AIST）及泰國國家金屬與材料技術中心（National Metal and Materials Technology Center）之資深研究人員、韓國知識經濟部標準技術處（Korea Agency for Technology and Standards Ministry of Knowledge Economy）官員、以及美國Motorola實驗室、新加坡南洋理工大學等校之研究人員。