採訪記者 : j 於 September 08, 2003 at 09:11:38 :

新聞內容 :

【台南訊】隨著微機械技術產業的興起，掃描式探針顯微鏡技術(SPM)應用於奈米加工及檢測之研究與發展，亦是學術、研發機構及產業界等各方關注的焦點。訂於十六日起一連兩天在國立成功大學召開的「奈米材料與檢測技術研討會」即日起接受報名，名額有限額滿為止，意者請填妥報名表郵寄至「701台南市大學路一號成大微奈米科技研究中心宋佩璇小姐收」或傳真報名(FAX：06-2080103)。

「奈米材料與檢測技術研討會」係由財團法人國家實驗研究院國家奈米元件實驗室、國立成功大學電機工程學系及教育部南區奈米人才培育中心共同舉辦。會中，除了專家學者就掃描式探針顯微鏡技術(SPM)應用於奈米加工及檢測之研究與發展進行探討外，亦邀請各相關領域產業界、學術界及政府指導單位代表一起參與。簡章、報名表及相關資訊可至網頁：http://www.ncku.edu.tw/~nckumems/下載。920908j