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成大鄭芳田教授 在IEEE ICRA 2013奪得兩項大獎 獲頒創新引導生產科技獎及自動化領域最佳論文獎

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【台南訊】成功大學製造資訊與系統研究所講座教授鄭芳田日前赴德國卡爾斯魯厄(Karlsruhe)參加2013年IEEE國際機器人及自動化學術研討會(ICRA 2013),除接受國際電機電子工程師學會(IEEE) 機器人與自動化分會(Robotics and Automation Society, RAS)頒發「2013國際電機電子工程師學會Inaba創新引導生產科技獎(2013 IEEE Inaba Technical Award for Innovation Leading to Production)」,也獲得IEEE ICRA 2013自動化領域最佳論文獎,22日載譽返校,受到成大師生熱烈的慶賀。鄭芳田教授及其研究團隊一連在IEEE獲得兩個大獎,肯定了他所研發的「全自動虛擬量測 (AVM) 系統」對產業發展的卓越貢獻。

「全自動虛擬量測 (AVM) 系統」現已應用在高科技產業,且可大幅降低產品抽測頻率與協助提高產品良率,達到降低整體生產成本之目標。目前工具機產業對該系統也抱持高度興趣,希望能引進該系統應用於工具機產業的生產線。為此,鄭芳田教授率同E化製造研究中心之成員與福裕事業股份有限公司、中正大學前膽製造系統頂尖研究中心(AIM-HI)、和精密機械研究發展中心(PMC)共同合作,參加2012年11月在台中舉辦的台灣國際工具機展(TMTS)及2013年3月在南港展覽館舉辦的台北國際工具機展(TIMTOS),成功進行了「智慧型製造雲」連結遠端工具機(位於彰化伸港之福裕公司工廠內)之全自動虛擬量測(AVM)即時加工精度推估現場實機展示(Live Demo),成果備受業界高度肯定。

鄭芳田教授所率領的研究團隊成員,還包括成大製造所丁顥博士生、高雄第一科大楊浩青教授、文化大學洪敏雄教授,將AVM應用於工具機之研發成果撰寫成論文: “應用於預測工具機加工精度之創新虛擬量測機制(A Novel Virtual Metrology Scheme for Predicting Machining Precision of Machine Tools)”投稿至2013年IEEE國際機器人及自動化學術研討會 (ICRA 2013),並獲得IEEE ICRA 2013自動化領域最佳論文獎。

IEEE國際機器人及自動化學術研討會 (ICRA 2013)為全球在機器人與自動化領域最重要且學術地位最崇高的國際學術會議。本次大會共有來自63國之2,265篇論文投稿,只有873篇被接受,即接受率僅38.5%。更榮幸地鄭教授研究團隊撰寫的 “應用於預測工具機加工精度之創新虛擬量測機制” 論文,不僅被接受,而且榮獲大會頒發之自動化領域最佳論文獎(ICRA 2013 Best Automation Paper Award)。

成大鄭芳田教授所研發之「全自動虛擬量測 (AVM) 系統」,可節省導入虛擬量測至其他同型機台或同一機台之各反應室的時間與人力成本,並維持虛擬量測應有的精度;可自動評估與篩選製程資料和實際量測資料,因而充分滿足全廠自動導入虛擬量測的需求。

這項「全自動虛擬量測 (AVM) 系統」,除獲中華民國專利(I 349867)外,亦另獲美國(8,095,484 B2)、日本(第4914457號)、中國大陸(第843932號)以及韓國(10-1098037)等四國之專利權。目前已成功技轉予奇美、茂迪、聯電等大廠實際上線應用。
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